ITECH新一代電源老化測(cè)試系統(tǒng)方案

絕大部分電源類產(chǎn)品在出廠前均會(huì)進(jìn)行時(shí)間不等的老化測(cè)試，老化測(cè)試是一個(gè)長(zhǎng)時(shí)間的測(cè)試過程，通常情況下需要同時(shí)對(duì)多個(gè)產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)試。針對(duì)DC輸入類的產(chǎn)品，從經(jīng)濟(jì)角度出發(fā)可以利用開關(guān)電源作為輸入源對(duì)被測(cè)產(chǎn)品進(jìn)行老化測(cè)試，但開關(guān)電源不具備測(cè)量功能，且輸出電壓基本為固定值，不具備調(diào)節(jié)能力，這種方案一是造成通用性較差無法滿足不同輸入條件的產(chǎn)品測(cè)試，此外開關(guān)電源自身不具備測(cè)量功能，也無法實(shí)時(shí)記錄老化過程中各項(xiàng)參數(shù)，如果采用外置采樣回路的方式來采集老化通道的數(shù)據(jù)，除了會(huì)增加額外的成本之外，在監(jiān)控端也需要單獨(dú)監(jiān)控。

以往的測(cè)試中利用電源去做老化測(cè)試還會(huì)面對(duì)體積大，通訊延時(shí)高等問題，這是因?yàn)殡娫丛谧鐾ㄓ嵓?lián)時(shí)，控制端的上位機(jī)時(shí)逐個(gè)與每一臺(tái)電源做通訊交互，無論時(shí)何種通訊方式，逐個(gè)交互均會(huì)產(chǎn)生大量的延時(shí)時(shí)間，例如每一臺(tái)電源每進(jìn)行一次交互時(shí)間的為100ms,那50臺(tái)電源，在不考慮指令延時(shí)的情況下延時(shí)時(shí)間即為49*0.1S，也就是單臺(tái)電源的交互周期會(huì)被拉長(zhǎng)到4.9S，這樣不僅造成數(shù)據(jù)無法及時(shí)上報(bào)，同樣控制端指令的下發(fā)也會(huì)有滯后。

IT9000-M3100平臺(tái)老化測(cè)試系統(tǒng)，是專門針對(duì)產(chǎn)線老化測(cè)試效率低下，數(shù)據(jù)記錄繁瑣而開發(fā)的一套綜合型測(cè)試系統(tǒng)，是ITECH電源老化系統(tǒng)的升級(jí)方案。整套系統(tǒng)采用模塊化設(shè)計(jì)，提供豐富的選配參數(shù)（20V/30V/80V/150V/300V/600V六種電壓等級(jí)，每種電壓等級(jí)包含400W及850W兩種功率規(guī)格），軟件大支援256通道。基于IT-M3100硬件平臺(tái)的老化方案，大的亮點(diǎn)是超高的功率密度，這正是自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)所需要的。在37U機(jī)柜中可以集成64路老化供電源，有效提高單個(gè)老化測(cè)試工位的產(chǎn)能，較之傳統(tǒng)的方案產(chǎn)能提升了近2倍。特別適用于產(chǎn)線批量的老化的行業(yè)，如激光器老化系統(tǒng)，芯片測(cè)試，車燈或其他汽車電子部件的老化測(cè)試。

 對(duì)于生產(chǎn)測(cè)試，待測(cè)物的功率也會(huì)隨著生產(chǎn)項(xiàng)目的不同而變化。為進(jìn)一步提升系統(tǒng)的運(yùn)行的靈活性，IT-M3100平臺(tái)老化系統(tǒng)，支持多4臺(tái)設(shè)備的主從并機(jī)控制，將單路的老化功率擴(kuò)展為原有的4倍。

IT9100老化測(cè)試系統(tǒng)軟件，采用多線程設(shè)計(jì)原理，支援上百通道DUT同時(shí)在線老化。軟件包含：硬件配置，工步編輯，通道運(yùn)行，數(shù)據(jù)查詢及用戶管理五大主要功能模塊，提供中英文兩種界面。基于Mysql的數(shù)據(jù)庫平臺(tái)，使得數(shù)據(jù)采集和分析功能更為*和穩(wěn)定，報(bào)表可以導(dǎo)出為pdf或excel格式，便于后期分析。   

為更好的管理不同人員對(duì)于系統(tǒng)的操作，IT9100軟件提供用戶權(quán)限設(shè)定功能，給品質(zhì)，研發(fā)及測(cè)試人員配置不同的操作權(quán)限，防止系統(tǒng)程序被任意修改或人為非正常停止，進(jìn)一步保證系統(tǒng)的安全可靠性。軟件也提供多種保護(hù)條件設(shè)定，當(dāng)任意通道檢測(cè)到異常，會(huì)立即停止，不影響其他通道的正常運(yùn)行。